ABIS II

Majoritatea defectelor ce pot aparea in procesul de productie sunt „invizibile” in etapele timpurii.

Descara brosura de aici

ABIS II – Recunoasterea defectelor in timpul procesului de productie

Majoritatea defectelor ce pot aparea in procesul de productie sunt „invizibile” in etapele timpurii. Aceste defecte minimale ale suprafetelor devin perceptibile vizual abia mai tarziu, insa doar cand pasi aditionali ai procesului, precum vopsirea, au fost deja finalizati. In acel moment, pot fi remediate doar prin masuri corective costisitoare.

Pentru a atinge o calitate inalta a suprafetei, prin prisma optimizarii costurilor, trebuie asigurata detectia unei gama largi de defecte. Detectarea timpurie fiabila, combinata cu evaluarea obiectiva si clasificarea defectelor, precum umflaturile, adanciturile, loviturile, ondularile, fisurile etc., este necesara deoarece costul de rectificare creste drastic odata cu evolutia ciclului de productie ( presare/ambutisare, asamblare preliminara, vopsitorie, asamblare finala). Prin urmare, in special remedierea defectelor care s-au propagat de-a lungul procesului de productie constituie un factor substantial in cresterea orelor pentru munca. Astfel, exista o influenta considerabila asupra eficientei economice a procesului de productie.

Surface Inspection

ABIS II - Technical Data Sensor Systems
  ABIS II Sensor ABIS II
Contrast Sensor
Dimensions (mm) 670 x 80 x 100 755 x 160 x 460
incl. ABIS II sensor
Weight (kg) 4.7 14.8
inkl. ABIS II sensor
Image Acquisition Time 0.1 msec 0.1 msec
Robot Capability yes yes
Field of View (mm) 220 x 300 220 x 300
Data Interface GigE GigE
Resolution CCD Camera
(Pixel)
1200 x 1600 1200 x 1600
3D Defect Size Resolution
(Depth)
10 µm (min.)
dependent on surface
 
Lateral Defect Resolution 1.5 mm
dependent on surface
10 µm
Stand-Off Distance 432 mm +/- 20 mm 432 mm +/- 20 mm
Light Source Xenon flash lamp LED
Lifetime of Light Source min. 10EXP6 flashes
at 1 Hz repetition frequency
10 Mio. collets

ABIS II – un sistem cu senzor optic disponibil in diferite versiuni si concepte de sistem – permite detectarea rapida, fiabila si ultra-precisa nu doar a defectelor 3D de pe piesele inspectate (umflaturile, adanciturile, loviturile, ondularile, fisurile etc.), dar si a defectelor de contrast ( zgarieturi, reziduuri de adeziv, praf si murdarie) folosind noul senzor de contrast uprgadat.

Multi utilizatori din industria automotive se bazeaza pe analiza integrata a calitatii suprafetelor pe intrega lungime a lantului de productie. Dupa fiecare din pasii de productie Ambutisare, Asamblare, Vopsire/Acoperire Catodica/Cataforeza, piesele individuale sunt examinate din nou cu aceeasi aplicatie de inspectie, pentru a identifica orice defect de suprafata ce ar putea afecta calitatea stratului de vopsea final. Dezvoltarea unui defect este documentata dupa fiecare etapa a procesului. Experienta practica in productie arata ca relevanta unui defect de suprafata poate creste sau descreste dupa o noua etapa a procesului. Bazat pe o analiza de calitate a intregului proces, reparatia se face exact pe locatia necesara de pe piesa si in etapele necesare. Astfel se mareste eficienta in zona de finisare, rezultand in economie semnificativa de costuri.

In afara de dezvoltarea unui defect de suprafata pe parcursul procesului, schimbarile legate de timp din perioada de productie ofera utilizatorilor informatii importante despre schimbarea calitatii. De exemplu, cand valoarea de audit scade, se pot lua masuri corective (de ex. parametrii presei sau suprafata matritei), in fazele incipiente, inainte de a produce piese cu defecte ce vor necesita mai tarziu reparatii. Programele de statistica ofera diagrame de distributie care arata utilizatorului ce pozitii ale componentelor si ce pasi de productie ofera potential pentru optimizare de costuri.
ABIS II ofera cele mai inalte standarde de convenienta pentru aplicatii industriale cat si pentru posibilitati de upgradare, detectare de defecte si uz comod. Pentru a inspecta o piesa, utilizatorul trebuie doar sa atinga ecranul si sa porneasca secventa de testare. Datorita vitezei de inspectie si evaluare a ABIS II, raportul de rezultate va fi gata in timp minim. Cu un sistem offline, de exemplu, utilizatorul va primi un raport complet, inclusiv audit, in mai putin de 40 de secunde dupa ce a pornit inspectia usii glisante din imaginea din partea stanga. Intregul sistem offline poate fi operat prin simpla selectare a procesului relevant de inspectie a piesei specifice, de pe display-ul tactil.

Atunci cand se programeaza secvente aditionale de testare pentru piese noi, utilizatorul este ajutat sistematic de software-ul usor de folosit ABIS-TeachIn. Dupa definirea pozitiilor individuale de inspectie ale piesei, utilizatorul desemneaza nivelul de calitate necesar pentru fiecare zona a piesei. Ultima versiune a software-ului TeachIn include o unealta virtuala pentru audit. Uneltele cuprind gresii de mai multe dimensiuni ce pot fi folosite in functie de dimensiunile suprafetei defectului. Gresiile scurte permit inspectarea pozitiilor critice de pe piese (de exemplu, degajarile manerelor usilor, contururi stranse ale suprafetelor concave) care nu pot fi accesate cu tocile adevarate. Functiile aditionale pentru detectarea liniilor de blocare si impact, crapaturilor si gaurilor sunt usor de activat. Criteriul de clasificare si valorile prag pentru evaluarea automata a defectelor se bazeaza intotdeauna pe specificatiile clientului. In plus, sistemul aplica standardele interne de audit ale clientului si nomenclatura a defectelor. Valorile minime specificate pot fi adaptate la etapa de productie relevanta in orice moment (audit in asteptare).

CONTACT

ADRESA

Timisoara - Calea Torontalului, DN 6, Km 560 + 840 m stanga

EMAIL

office@nutechnologies.ro

TELEFON

0730 553 523

Doresc sa fiu contactat de Nutechnologies